在光电探测领域，光电二极管作为核心器件，通过光伏效应将光信号转换为电信号，然而，传统光电二极管受限于光生载流子的固有数量，在微弱光信号探测场景中面临信噪比低、灵敏度不足等挑战。

为突破这一瓶颈，雪崩光电二极管（APD）凭借独特的雪崩倍增效应（在以硅或锗为材料制成的光电二极管的P-N结上加上反向偏压后，射入的光被P-N结吸收后会形成光电流，加大反向偏压会产生“雪崩”的现象），成为超灵敏光电探测的关键技术载体。

要求雪崩光电二极管（APD）的暗电流需严格控制在0.9nA量级。

在光通信领域，APD暗电流测试不仅是器件性能的“体检单”，更是系统设计的“基准线”。通过暗电流测试，可实现从材料生长到系统集成的全链条优化，支撑光通信技术的跨越式发展。

针对小电流测试场景，传统万用表常面临分辨率不足、噪声干扰等挑战，导致测量数据失真。而TH199X系列高精度源表通过创新技术突破，提供6 1/2高精度电源输出的同时，将最小电流测试能力提升至10fA，其技术优势可从以下维度展开阐述：

1、多种工作方式

TH199X系列高精度源表可同时输出并测量电压和电流，在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能，各功能可任意切换。

可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率，支持高速采样，可生成任意波形。

2、高精度配置

针对极限测试场景，TH199X系列配备了专业级测试夹具系统，包含电磁屏蔽盒、精密测试盒、三同轴电缆，全方位保障极端条件下的测量精度与稳定性。

3、 专家模式分析

针对半导体元件静态特性分析场景，TH199X系列高精度源表通过软硬件一体化设计，实现了从测试配置到数据分析的全流程自主化操作，显著提升了研发与质检效率。

无需上位机软件，可直接在仪器界面设置并生成半导体元件，例如二极管、三极管、MOS管、IGBT等IV特性曲线，并可以直接调用常用器件库，快速完成测试。

光通信作为现代信息社会的神经中枢，已成为支撑5G网络、人工智能、工业互联网等战略领域的关键基础设施。同惠电子深耕光电元器件测试领域，布局光子集成等前沿方向，致力于以精密测试技术驱动光通信产业向更高速率、更低功耗持续演进。